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Camera di prova di stress altamente accelerata (camera ha)

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Camera di prova di stress altamente accelerata (camera ha)

Camera di prova di stress altamente accelerata (camera ha)

La descrizione

La camera di prova hast è adatta per l'industria dei chip a semiconduttore, nonché per componenti elettronici, parti, circuiti integrati, materiali e processi in campi come l'aviazione, l'aerospaziale, le armi, le navi, l'industria nucleare, gli istituti di ricerca scientifica e le università. Conferma se un guasto funzionale si verifica a causa di dura(durata) o cambiamenti ambientali attraverso un ciclo accelerato ad alta temperatura, alta umidità, alta pressione e test costanti.

Nome del prodotto Camera di prova di stress altamente accelerata (camera ha)
Modello di condotto prodotto HPSC251-M HPSC252-M
Volume della camera di lavoro 51 l 51 l × 2 serbatoi
Dimensioni della camera di lavoro φ 380 × D 450 (R × D) φ 380 × D 450 (R × D) × 2 serbatoi
Dimensioni del serbatoio φ 450 × D 600 (R × D) φ 450 × D 600 (R × D) × 2 serbatoi
Dimensioni esterne 1200 × 1960 × 1140 mm (W × H × D) 1200 × 2170 × 1140 mm (W × H × D)
Intervallo di temperatura 105℃~150℃
Fluttuazione della temperatura ≤±0.5℃
Uniformità della temperatura ≤2℃
Deviazione della temperatura ±2℃
Intervallo di pressione 110kPa ~ 300kPa (pressione assoluta)